产品介绍：
STC测控卡性能：
● STC测控卡是基于 PCIE 接口的微机内置式PCIE试验卡，符合PCIE 3.0规范。该卡可直接插入微机的任一PCIE插槽中（包括PCI Express x1插槽、PCI Express x16插槽），通过简单的连线，直接连接到试验机，即可实现微机自动测量与控制，真正做到即插即用。
● 2路高精度24位A/D转换通道，采样周期50Hz，最高分辨率达±1/300000，全程不分档，全程分辨率不变；
● 传感器供桥电源与A/D芯片的基准电压共用同一电压，整个测量系统同比衰减，实现了供桥电源的硬件补偿技术；通过24位A/D转换满足系统的灵敏度和分辨率要求，避免了软件倍频方法降低系统的特性；
● 3路数字光栅信号采集，采用高速光耦，截止频率高达100MHz，自动倍频判向，一路用于采集横梁位移，另外两路用于采集大变形。
● 4路数字量输入，4路数字量输出；
● 1路方波输出，输出频率范围高达1:200万；
● 系统板采用4层PCB独特抗干扰布线方法，抗干扰能力强；
● 全系统采用全数字化设计, 安全、稳定、可靠、精度高；
● 全系统无任何可调器件，数字调零和测控参数自动标定；
● 系统集成32位ARM芯片，具备高速运算能力，实时处理数字信号；
● 严格遵循JJF 1103-2003万能试验机计算机数据采集系统的评定进行设计。
